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JEOL - JSM-5600 Microscope électronique à balayage (SEM) - 1998

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Spécifications du lot
Quantité
1
Marge
Non
Marque
JEOL
Poids
1kg
Type
JSM-5600
Année
1998
Branchement électrique
230V
Longueur totale
2100mm
Largeur totale
1100mm
Hauteur totale
1900mm
HS Code
9012.10
Conditions de livraison
Ex fond de teint non emballé
Description

Microscope électronique à balayage (SEM) JEOL JSM-5600 fabriqué au Japon. Équipement de laboratoire pour l’analyse de surface et la caractérisation des matériaux. Équipé du détecteur EDS Oxford Instruments modèle 6587 (ATW2), résolution déclarée de 138 eV à 5,9 keV, d’un système d’analyse élémentaire aux rayons X, d’une chambre d’échantillonnage inclinable et d’un système à vide. Il comprend une colonne électronique, une table antivibration, un détecteur EDS Oxford Instruments et des composants visibles sur les photographies. Condition visuellement complète. Il est conseillé de vérifier le fonctionnement du système à vide, du canon électronique, de l’électronique de contrôle et du logiciel avant la commercialisation.

Détails supplémentaires
Tous les articles sont vendus comme d’occasion et non contrôlés. Pour plus d’informations détaillées, veuillez consulter les conditions générales de la vente aux enchères. Contact pour toute question technique et demande de rendez-vous : Elisabeth De Prada Email : elisabeth.deprada@surplex.com
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