1 / 33

CARL ZEISS CARL ZEISS JENA ZKM 02-250 MEETMICROSCOOP MET METRONICS QUADRA-CHEK 2000 Meetmicroscoop

Huidig ​​bod
Status

Totaal bod

Bekijk de volledige uitsplitsing

Maximaal bod

Bekijk de volledige uitsplitsing
Kavelspecificaties
Hoeveelheid
1
Marge
Nee
Merk
CARL ZEISS
Eigen gewicht
1kg
Totale afmeting Hoogte
1mm
Leveringsvoorwaarden
Geladen op vrachtwagen
Beschrijving
Carl Zeiss Jena ZKM 02-250 Meetmicroscoop met Metronica Quadra-Chek 2000 Fabrikant: Carl Zeiss Jena / Metronica Model: ZKM 02-250 / Quadra-Chek 2000 Conditie: gebruikt Beschrijving Te koop: complete werkstation voor precisie-optische meettoepassingen (metrologie / kwaliteitscontrole), bestaande uit een Carl Zeiss Jena ZKM 02-250 meetmicroscoop met Metronics Quadra-Chek 2000 digitaal uitlees- en evaluatiesysteem, zoals te zien is op de foto's. Deze opstelling is geschikt voor dimensionale inspectie, geometrische metingen en optische besturing van kleine componenten in kwaliteitsafdelingen, gereedschapsruimtes en meetlaboratoria. Reisgebieden Meetsysteem / elektronica De Metronics Quadra-Chek 2000 is een digitale uitlees- en evaluatieunit die wordt gebruikt met profielprojectoren en meetmicroscopen. De belangrijkste functies zijn: • 2D-metingen (en 2D/3D-toepassingen afhankelijk van de systeemconfiguratie) • meetfuncties voor meetgeometrie voor punten, lijnen, cirkels, afstanden en hoeken • grafische weergave, meetsystemen en rapportagefuncties (afhankelijk van systeemspecificatie) Toepassing • inspectie van afmetingen en vorm van componenten • geometrische meting van kleine onderdelen • kwaliteitscontrole / gereedschapsruimte / meetlaboratoriumgebruik • contour- en 2D-featuremeting op een optisch meetstation Reikwijdte van levering • Carl Zeiss Jena ZKM 02-250 meetmicroscoop • Metronics Quadra-Chek 2000 digitale uitlees/controller • accessoires zichtbaar op de foto's (houders / armaturen zoals getoond)
Opmerkingen
Ongecontroleerd

Meer van dezelfde Veiling

Bekijk alle

Download nu de Surplex app!

App storeGoogle play