1 / 37

Jenoptik Hommel - TESTER W55 - 2011 - Waveline 20 Ruwheidsmeter

Huidig ​​bod
Status

Totaal bod

Bekijk de volledige uitsplitsing

Maximaal bod

Bekijk de volledige uitsplitsing
Kavelspecificaties
Hoeveelheid
1
Marge
Nee
Merk
Jenoptik Hommel
Type
TESTER W55
Bouwjaar
2011
Serienummer
87302
Machinegewicht
200kg
Aansluiting
230V
Leveringsvoorwaarden
Geladen op vrachtwagen
Beschrijving
"
Jenoptik HOMMEL TESTER W55 ruwheidsmeetstation met Waveline WLI-20, 2x HS 300 hoogtemeetstandaard, harde rotsplaat en accessoirepakket

Stationair ruwheidsmeetstation van Hommel-Etamic / Jenoptik vanaf eerste levering 2013 (zie leveringsnotitie).

Het meetstation bestaat uit een massieve harde rotsplaat met groef (item nr. 257056V01) als laag-trillingsbasis en twee HS 300 hoogte-meetstandaards.

Eén HS 300 is op de granieten plaat gemonteerd, de tweede HS 300 staat er apart achter en is inbegrepen in de leveringsmogelijkheden.

Componenten volgens typeplaten en leveropmerking:
• HOMMELTESTER W55
Artikel nr. 10010488
S/N 87302
Bouwjaar 2011
12 VDC / 3,5 A
• Waveline WLI-20 in behuizing
Nr. 244280
Bouwjaar
2013 • Hoogtemeetstandaard HS 300
Artikel nr. 10047611
• Draaibevestiging voor HS 300
Artikel nr. 10051140
• Zuil voor hoogtestandaard HS 300
Artikel nr. 10051737V01
• Naald TS1Q KE5/90GD
Artikel nr. 235738
Probepuntradius 5 μm
Probepunthoek 90°
• Drukknop TKU 300/600 basisset
• Probe rod TSMA magnetische adapter TKU
• Adapter voor Waveline 20 en LV16 naar HS300
• Bedieningsinstructies en documentatie
• Accessoirekoffer met andere accessoires

, massief granieten fundament voor reproduceerbare meetomstandigheden in het laboratorium en QA-gebied.
Volledig systeem voor het meten van tactiele ruwheid met stationair en modulair gebruik.

Conditie: gebruikt, visueel onderhouden met normale gebruikstekenen.
Verkocht zoals getoond, inclusief accessoires.
Fabrikant: Hommel-Etamic GmbH / Jenoptik Industrieel Metrologie
Model: HOMMEL TESTER W55
Voeding: 12 V gelijkstroom
Nominale stroom: 3,5 Per
bouwjaar W55: 2011
Bouwjaar WLI-20: 2013

Meetsysteem: tactiele ruwheidsmeetsysteem
Probetipstraal: 5 μm
Probepunthoek: 90°

Harde rotsplaat met groef voor Waveline 20 Meetstation
Twee HS 300" hoogtemeetstandaards
Opmerkingen
Ongeauditeerd
Aanvullende details
Let op: alle artikelen worden gebruikt en ongetest verkocht, tenzij uitdrukkelijk anders vermeld. De betreffende artikelbeschrijving is doorslaggevend. Voor gedetailleerde informatie over garantie- en garantievoorwaarden, raadpleeg de veilingvoorwaarden. Let op: Te laat of gemiste ophaling kan extra opslag-, verwerkings- of demontagekosten met zich meebrengen die de verantwoordelijkheid van de koper zijn.
Documenten

Meer van dezelfde Veiling

Bekijk alle

Download nu de Surplex app!

App storeGoogle play