1 / 5
JEOL - JSM-5600 Scanning Electron Microscoop (SEM) - 1998
- Huidig bod
- Status
Totaal bod
Bekijk de volledige uitsplitsing
Totaal bod
Bekijk de volledige uitsplitsing
Maximaal bod
Bekijk de volledige uitsplitsing
Maximaal bod
Bekijk de volledige uitsplitsing
Kavelspecificaties
- Hoeveelheid
- 1
- Marge
- Nee
- Merk
- JEOL
- Gewicht
- 1kg
- Type
- JSM-5600
- Bouwjaar
- 1998
- Aansluiting
- 230V
- Totale afmeting L
- 2100mm
- Totale afmeting Breedte
- 1100mm
- Totale afmeting Hoogte
- 1900mm
- GS Code
- 9012.10
- Leveringsvoorwaarden
- Niet gefundeerd - onverpakt
Beschrijving
Scanning Electron Microscoop (SEM) JEOL JSM-5600 gemaakt in Japan. Laboratoriumapparatuur voor oppervlakteanalyse en materiaalkarakterisering. Uitgerust met Oxford Instruments EDS-detector model 6587 (ATW2), met een opgegeven resolutie van 138 eV bij 5,9 keV, een elementair röntgenanalysesysteem, kantelbare monsterkamer en vacuümsysteem. Het bevat een elektronische kolom, een anti-trillingstafel, een EDS Oxford Instruments-detector en componenten die zichtbaar zijn op de foto's. Visueel complete conditie. Het is aan te raden om de werking van het vacuümsysteem, het elektronische kanon, de besturingselektronica en de software te verifiëren voordat je het op de markt brengt.
Aanvullende details
Alle artikelen worden als gebruikt en zonder gecontroleerde producten verkocht.
Voor meer gedetailleerde informatie kunt u de verkoopvoorwaarden raadplegen.
Contactpersoon voor technische vragen en het aanvragen van afspraken voor bezoeken:
Elisabeth De Prada
E-mail: elisabeth.deprada@surplex.com
