1 / 5
JEOL - JSM-5600 Scanning Electron Microscope (SEM) - 1998
- Oferta curentă
- Stare
Suma totală a ofertei
Vedeți detaliile totale
Suma totală a ofertei
Vedeți detaliile totale
Suma maximă a ofertei
Vedeți detaliile totale
Suma maximă a ofertei
Vedeți detaliile totale
Specificațiile lotului
- Cantitate
- 1
- Marjă
- Nu
- Marca
- JEOL
- Greutate
- 1kg
- Tip
- JSM-5600
- Anul de construc?ie
- 1998
- Conexiune electrica
- 230V
- Dimensiunea totala L
- 2100mm
- Dimensiunea totala W
- 1100mm
- Dimensiunea totala H
- 1900mm
- Codurile SA
- 9012.10
- Condiții de livrare
- Ex fundație-neambalat
Descriere
Scanning Electron Microscope (SEM) JEOL JSM-5600 made in Japan. Laboratory equipment for surface analysis and material characterization. Equipped with Oxford Instruments EDS detector model 6587 (ATW2), declared resolution of 138 eV at 5.9 keV, elemental X-ray analysis system, tilting sample chamber and vacuum system. It includes an electronic column, anti-vibration table, EDS Oxford Instruments detector and components visible in the photographs. Visually complete condition. It is advisable to verify the operation of the vacuum system, electronic cannon, control electronics and software before marketing.
Detalii suplimentare
Toate articolele sunt vândute ca folosite și neverificate.
Pentru informații mai detaliate, vă rugăm să consultați termenii și condițiile licitației.
Contact pentru întrebări tehnice și solicitare de programare pentru vizite:
Elisabeth De Prada
Email: elisabeth.deprada@surplex.com
