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JEOL - JSM-5600 Rasterelektronenmikroskop (SEM) - 1998
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- Status
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Spezifikationen zum Los
- Menge
- 1
- Differenzbesteuerung
- Nein
- Marke
- JEOL
- Gewicht
- 1kg
- Typ
- JSM-5600
- Baujahr
- 1998
- Elektrischer anschluss
- 230V
- Gesamtabmessung L
- 2100mm
- Gesamtabmessung B
- 1100mm
- Gesamtabmessung H
- 1900mm
- HS Code
- 9012.10
- Lieferbedingungen
- Ex Fundament - unverpackt
Beschreibung
Rasterelektronenmikroskop (SEM) JEOL JSM-5600, hergestellt in Japan. Laborausrüstung für Oberflächenanalyse und Materialcharakterisierung. Ausgestattet mit Oxford Instruments EDS-Detektormodell 6587 (ATW2), deklarierter Auflösung von 138 eV bei 5,9 keV, Elementarröntgenanalysesystem, kippbarer Probenkammer und Vakuumsystem. Sie umfasst eine elektronische Säule, einen Antivibrationstisch, einen EDS Oxford Instruments Detektor und auf den Fotos sichtbare Komponenten. Optisch vollständiger Zustand. Es ist ratsam, vor dem Verkauf den Betrieb des Vakuumsystems, der elektronischen Kanone, der Steuerelektronik und der Software zu überprüfen.
Weitere Details
Alle Artikel werden als gebraucht und unkontrolliert verkauft.
Für detailliertere Informationen siehe bitte die Auktionsbedingungen.
Kontaktperson für technische Anfragen und Terminanfrage für Besuche:
Elisabeth De Prada
E-Mail: elisabeth.deprada@surplex.com
