CARL ZEISS CARL ZEISS JENA ZKM 02-250 MIKROSKOP POMIAROWY Z METRONICS QUADRA-CHEK 2000 Mikroskop Pomiarowy

Carl Zeiss Jena ZKM 02-250 Mikroskop pomiarowy z Metronics Quadra-Chek 2000 Producent: Carl Zeiss Jena / Metronics Model: ZKM 02-250 / Quadra-Chek 2000 Warunek: używany Opis Na sprzedaż: kompletne stanowisko robocze do precyzyjnych zastosowań pomiarów optycznych (metrologia / kontrola jakości), składające się z mikroskopu pomiarowego Carl Zeiss Jena ZKM 02-250 z cyfrowym systemem odczytu i oceny Metronics Quadra-Chek 2000, jak pokazano na zdjęciach. To rozwiązanie nadaje się do inspekcji wymiarowej, pomiarów geometrycznych oraz optycznej kontroli małych komponentów w działach jakości, narzędziowniach i laboratoriach pomiarowych. Zakresy podróży System pomiarowy / elektronika Metronics Quadra-Chek 2000 to cyfrowa jednostka odczytu i oceny używana z projektorami profilowymi i mikroskopami pomiarowymi. Główne funkcje obejmują: • Pomiary 2D (oraz zastosowania 2D/3D w zależności od konfiguracji systemu) • funkcje pomiaru geometrycznego dla punktów, prostych, okręgów, odległości i kątów • wyświetlanie graficzne, programy pomiarowe oraz funkcje raportowania (w zależności od specyfikacji systemu) Zastosowanie • inspekcja wymiarów i kształtu komponentów • geometryczny pomiar małych części • kontrola jakości / narzędziownia / zastosowanie laboratoryjne pomiarowe • pomiar konturu i cech 2D na optycznej stacji pomiarowej Zakres realizacji • Carl Zeiss Jena ZKM 02-250 mikroskop pomiarowy • Cyfrowy odczyt / kontroler Metronics Quadra-Chek 2000 • akcesoria widoczne na zdjęciach (uchwyty / wyposażenie jak pokazano)