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JEOL - JSM-5600 Microscopio Electrónico de Barrido ( SEM ) - 1998
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Especificaciones del lote
- Cantidad
- 1
- Margen
- No
- Marca
- JEOL
- Peso
- 1kg
- Tipo
- JSM-5600
- Año de construcción
- 1998
- Conexión eléctrica
- 230V
- Dimensión total L
- 2100mm
- Dimensión total W
- 1100mm
- Dimensión total H
- 1900mm
- SA Code
- 9012.10
- Condiciones de entrega
- Ex fundación-sin empaquetar
Descripción
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) JEOL JSM-5600 fabricado en Japón. Equipo de laboratorio para análisis de superficies y caracterización de materiales. Equipado con detector EDS Oxford Instruments modelo 6587 (ATW2), resolución declarada de 138 eV a 5,9 keV, sistema de análisis elemental por rayos X, cámara de muestras inclinable y sistema de vacío. Incluye columna electrónica, mesa anti vibratoria, detector EDS Oxford Instruments y componentes visibles en las fotografías. Estado visualmente completo. Recomendable verificar funcionamiento del sistema de vacío, cañón electrónico, electrónica de control y software antes de su comercialización.
Detalles adicionales
Todos los artículos son vendidos como usados y sin comprobar.
Para obtener información más detallada, consulte los términos y condiciones de la subasta.
Contacto para consultas técnicas y solicitud de cita previa para visitas:
Elisabeth De Prada
email: elisabeth.deprada@surplex.com
